TOKYO BOEKI - эксклюзивный дистрибьютор Nanophoton Co. в России и СНГ
+7 (495) 223-40-00
+7 (495) 223-40-00
TOKYO-BOEKI

Система быстрого скрининга RAMANview

Расширите свой кругозор с помощью уникальной системы визуализации комбинационного рассеяния RAMANview.
RAMANview предоставляет вам совершенно новое измерение сверхбыстрого скрининга и просто в использовании.

«Ультра широкое поле зрения», «Расширенная глубина резкости», «Высокое пространственное разрешение», «Сверхдлинное рабочее расстояние» - эти 4 значения реализованы внутри небольшого блока, который позволяет проводить различные рамановские спектральные измерения.

Анализ более 800 мм2 площади без перемещения образца.

RAMANview имеет специальную оптическую систему с расширенным полем зрения. Даже большие образцы с площадью более 800 мм2 могут быть проанализированы без перемещения столика образца. Просто выберите мышью интересующую вас область и система сверхбыстрого лазерного сканирования проведет требуемый анализ. Обычные системы картирования занимают много времени и есть риск перемещения образца из анализируемой области. RAMANview экономит ваше время и обеспечивает безопасный анализ любой интересующей области.


Пример размера поля широкопольного рамановского изображения:
Слева: образец (алмазная наждачная бумага) и область измерения
Справа: широкоформатное рамановское изображение

 


Соотношение между увеличением объектива и поля зрения Большая глубина фокусировки устраняет необходимость в постоянной настройке фокуса.

Специальная оптическая система RAMANview обеспечивает расширенную глубину фокусировки до 1,4 мм (с объективом 0,5x) для образцов с перепадом высот 1 или 2 мм без размытия зон фокусировки. Эта уникальная глубина резкости позволяет легко отбирать пробы без резки образца.


Соотношение между увеличением объектива и глубиной фокуса Высокое пространственное разрешение на уровне микроскопического рамановского рассеяния.

Данные справа представляют собой результаты, полученные путем визуализации алмазных шариков диаметром 1 микрон с помощью 2-кратной линзы объектива. Из профиля пиковой интенсивности вдоль пунктирной линии видно, что пространственное разрешение составляет 2,5 микрона. Отображение мелких частиц в локальных областях и обнаружение веществ с низким содержанием в несколько процентов можно легко измерить с помощью RAMANview.


Оценка пространственного разрешения RAMANview:
Слева: Рамановское изображение алмазных шариков Ø 1 мкм.
Справа: Профиль пиковой интенсивности.

Сравнение рамановских изображений, полученных на RAMANview и RAMANtouch:
4H-SiC; 6H-SiC. Ультра большое рабочее расстояние расширяет область измерений.

RAMANview имеет рабочее расстояние более 70 мм (с объективом 0,5x). Поскольку расстояние от объектива до поверхности измерения велико, нет необходимости беспокоиться о столкновении образца с объективом. RAMANview позволяет проводить отбор проб и измерять спектры даже в глубоких контейнерах, сосудах, в больших системах отбора проб и даже измерения через стекла или прозрачные пленки.


Измерение образца во флаконе с высотой 45 мм.
Слева: на RAMANview.
Справа: на обычном рамановском микроскопе.

Соотношение между увеличением объектива и рабочим расстоянием.