Рамановская микроскопия с произвольным сканированием RAMANwalk
Сканирование лазерным лучом на основе теории стохастического процесса и теории информации
Точечное сканирование при значительном сокращении времени измерения!*
Самым слабым местом рамановского микроскопа является чрезвычайно длительное время измерения. Нам удалось решить эту проблему с помощью теории стохастических процессов и теории информации. Без какой-либо предварительной информации об образцах RAMANwalk может сканировать, испуская лазерные лучи по наиболее подходящим путям, получая изображения со скоростью в 5-10 раз быстрее, чем обычный сканирующий рамановский микроскоп.
*Патент находится на рассмотрении
Высокоскоростной скрининг без предварительной обработки
RAMANwalk использует метод сканирования, который не требует предварительной информации об объекте. Это оборудование может проверять образец, даже когда трудно обнаружить посторонние вещества в образце с помощью микроскопа. Как только обнаруживается характерная комбинация комбинационного рассеяния, лучи автоматически проводят поиск объекта, что позволяет быстро получить необходимые данные.
RAMANwalk очень эффективен при проверке образца, который не требует тщательной проверки и содержит какие-либо посторонние вещества.
RAMANwalk использует только оптическую систему сканирования по точкам и механизм электрической регулировки, что позволило разработать компактный и эргономичный корпус и проводить удобный высокоскоростной скрининг.
| Спецификация | |
|---|---|
| Длина волны лазера | две длины волны (выберите две из 488 нм, 532 нм,671 нм, 785 нм) |
| Лазерное освещение | Точечное / Линейное |
| Фокусное расстояние спектрографа | 550мм |
| Решетка | 300, 1200 реш/мм (максимум 3 решетки) |
| Детектор с TE-охлаждением | Охлаждаемая ПЗС-матрица на 1650пикселей |
| Режим сканирования | XY сканирование лучом XYZ сканирования столиким |
| Микроскоп | Прямой |
| Затеняющая крышка | С блокировкой |
| Размер | 372 x 971 x 473 мм |
| Вес | 50 кг |
| Опции | Точечное наблюдение Поляризационно-зависимоерамановское измерение. Измерение низкого волнового числа (50 см-1). Высокоточные наблюдения при пиковыхсдвигах. |
| Производительность | |
| Пространственное разрешение (XY/Z) | 350 нм / 1000 нм (при 532 нм, 100x0,90NA) |
| Спектральный диапазон | 100 см-1 |
| Спектральное разрешение (FWHM) | 1,5 см-1 (при 785 нм ×1200 реш/мм) |
| Спектральное пиксельное разрешение | 0,74 см-1 / пиксель (при785 нм × 1200 реш/мм) |
