Микроскопия УФ/ГУФ RAMANtouch vioLa
Для пользователей микроскопов важным аспектом является выбором длины волны. Оптимальная оптическая система будет меняться в зависимости от длины волны. Хотя рамановские микроскопы в качестве источников света могут использовать различные длины волн, до сих пор было трудно поддерживать рабочие характеристики прибора на всех длинах волн. Это связано с тем, что стекло, используемое для оптической системы, имеет разные характеристики в зависимости от длины волны.
Особенно в ультрафиолетовой области (свет с длиной волны короче 400 нм) заметно характерное изменение свойств стекла. Это приводит к тому, что производительность обычных рамановских микроскопов снижается. Но с другой стороны, преимущество наблюдения в ультрафиолетовой области перевешивает недостаток снижения производительности.
Уникальная оптическая система RAMANtouch vioLa
RAMANtouch vioLa позволит вам ощутить преимущества наблюдения в ультрафиолетовой области. Ультрафиолетовое наблюдение с беспрецедентной высокой эффективностью и высоким пространственным разрешением открывает новый мир комбинационного изображения.
На рисунке ниже показана часть оптической системы, установленной в RAMANtouch vioLa. В типичной сканирующей оптической системе свет дифрагируется парой линз, но в оптической системе RAMANtouch vioLa, называемой катадиоптрической оптической системой, изгибает свет с помощью отражающего зеркала и корректирующей линзы вместо пары линз. Благодаря этому мы можем выполнять высокоточное сканирование даже в глубоких ультрафиолетовых лучах.
Новый широкополосный отражающий объектив sumile
Чтобы реализовать высокое значение числовой апертуры N.A. в широком диапазоне длин волн, включая глубокую ультрафиолетовую область, компания Nanophoton использует отражающую оптическую систему Шварцшильда, которая заполненная синтетическим кварцем. Это совершенно новый объектив, обеспечивающий одновременно высокую пропускную способность и высокую мощность. В сочетании с RAMANtouch vioLa последующая высокоскоростная визуализация может выполняться в глубокой ультрафиолетовой области.
Наблюдение с помощью ультрафиолетового излучения позволяет получить информацию, которую до сих пор не удалось получить с помощью рамановского наблюдения. Ультрафиолетовые лучи из-за малой длины проникновения (расстояние, которое может достигать свет) могут нести информацию только о поверхностном слое вещества. Кроме того, такое наблюдение позволяет избежать влияния флуоресценции и может быть реализовано с высоким пространственным разрешением при наблюдении фотолюминесценции (ФЛ) с широкой запрещенной зоной.
Пример 1: Анализ напряжения 6H-SiC
На рисунке справа показано измеренное поверхностное напряжение пластины SiC. Сравнивая изображение, полученное с помощью оптической микроскопии, и рамановским изображением, можно увидеть, что растягивающее напряжение создается в дефектной области, а сжимающее напряжение создается между дефектами. При длине волны 325 нм можно наблюдать только внешнюю поверхность SiC. Для анализа использовали сдвига рамановского пика 789 см-1, который соответствует FTO(2/6)E2 из 6H.
Пример 2: излучение ФЛ от микроструктуры InGaN
Наблюдение свечения островковой структуры InGaN, выращенной на подложке GaN. Разница в выращенных методах изображается как изменение излучения ФЛ. Визуализация в широком диапазоне длин волн от 325 до 500 нм может быть выполнена с помощью новой оптической системы.
| Длина волны источника света | 257 нм, 266 нм, 325 нм, 355 нм, 405нм, 457 нм, 488 нм, 532 нм, 532 нм |
| Типы освещения | Точечный/ Линейный |
| Фокальное расстояние спектрометра | 550 мм |
| Тип решеток | 300, 600, 1200, 2400, 3600 реш/мм |
| Детектор | с охлаждением CCD 1340 × 400 пикселей, др. |
| Опции | * Точечное наблюдение * Высокая точность наблюдения припиковых сдвигах * Столик нагрева / охлаждения |